MM32 MCU中ADC参考电压来源
灵动MCU的ADC参考电压（V<sub>REF</sub>）通常有以下几种来源，具体取决于芯片型号：参考源类型 描述
外部 V<sub>REF</sub> 引脚 单独引脚供参考电压（如 VREF+）
V<sub>DDA</sub> 电源电压 使用模拟电源作为参考电压（默认）
内部参考源（VREFINT） 固定值参考（如1.2V），用于内部测量
注意：大部分 MM32 系列不支持在 ADC 采样过程中动态修改参考源，因其通常在 ADC 初始化时一次配置，仅少数型号可能允许关停重配。
二、是否能“动态”切换 V<sub>REF</sub>？
典型限制：
参考电压源通常在 ADC 初始化时配置，并不能每次采样时随意更换；
更换参考电压通常需要关闭ADC → 重新配置参考源 → 重新启动ADC，不适合快速切换；
部分芯片甚至无软件可选 V<sub>REF</sub>，只能使用固定源（如 V<sub>DDA</sub>）；
某些高端型号（如 MM32SPIN、MM32L0x）可能具备内部VREFINT切换能力，但需参考具体数据手册或参考代码。
三、应用于“多电压测量”的替代方案
在测量多个电压源，且电压幅值差异较大（如1.5V电池和24V电源）时，我们通常希望有更灵活的动态测量策略，此时可考虑以下方式：
1. 分压匹配 + 固定 V<sub>REF</sub>
使用单一稳定 V<sub>REF</sub>（如3.3V），配合每个测量通道使用不同的前端电阻分压比例，将所有电压统一压降到 ADC 线性范围。
c
复制
编辑
// 不同分压，对应不同通道
ADC1 -> 电池A（通过1:2分压）
ADC2 -> 24V（通过1:10分压）
然后软件中使用每通道不同的“校准/还原系数”即可还原原始电压。
2. 基于 VREFINT 的内部自校准
灵动部分MCU支持测量内部 VREFINT（如 1.2V）通道。通过反推实际 V<sub>DDA</sub> 电压，实现 ADC 精度补偿，特别适合电池供电下V<sub>DDA</sub> 非稳定场景。
c
复制
编辑
// 读取内部1.2V通道
uint16_t adc_vrefint = ADC_ReadChannel(VREFINT_CHANNEL);
float vdda = 1.2 * 4095 / adc_vrefint;
3. 多芯片/多ADC策略（极端场合）
如果需要多个参考电压并且无法满足，可以考虑以下策略：
使用带不同参考电压的外部ADC芯片
使用多个ADC模块（部分MCU具备 ADC1/ADC2）
或干脆 MCU + 模拟开关分时接入不同测量通道
MM32 MCU 内部集成的参考电压源通常经过了精心设计和校准，具有一定的稳定性，能够在一定程度上减少外部因素 在代码中选择内部参考电压作为ADC的基准源。 大多数MCU内置参考电压（如1.2V、2.5V），但精度和温漂较差，适用于低精度场景。 其输出电压稳定，典型值约为 1.2V 内部参考电压 需额外硬件设计，增加成本和复杂度。 由于 VDD 电源会受到电源纹波、负载变化等因素的影响，其电压稳定性相对较差，可能会导致 ADC 转换结果的精度下降。 外部参考电压源 通过使用高精度的外部参考电压源芯片（如 TL431 等），可以获得非常稳定和精确的参考电压，从而提高 ADC 的转换精度。 使用模拟电源 直接使用内部参考电压源可以简化电路设计 通过设置ADC控制寄存器的特定位启用内部参考 额外的外部元件来实现外部参考电压源，会增加电路的复杂度和成本。 内部参考 在软件编程中，需要通过配置相应的寄存器来选择使用内部参考电压源。 可以通过外部引脚（例如Vref+引脚）提供一个精确的参考电压。 使用VDDA作为参考电压时，需要注意VDDA和VDD之间的压差应小于300mV，以避免数据丢失或测量误差。 内部参考电压源 参考电压一旦配置，通常需重启ADC才能更换，不适合快速切换场景